Измерение электрических величин

Измерение электронных величин

При рассмотрении характеристик электронных цепей применительно к задачкам автоматического регулирования и управления будем исходить из математических моделей в форме дифференциальных уравнений. При всем этом измеряемыми величинами могут быть напряжения, токи, активные сопротивления, емкости, индуктивности, частоты, фазы и разные характеристики диэлектрических и ферромагнитных материалов. В отдельных случаях в математических моделях употребляются заместо напряжений и токов величины магнитных потоков и электронных зарядов.

В системах автоматического регулирования и управления обозначенные характеристики цепей и процессов обычно рассматриваются как функции времени, но время от времени, не считая временной зависимости, употребляются и спектральные характеристики отдельных измеряемых величин.

Изменение характеристик электронных цепей и процессов нередко носит случайный нрав. Принятый способ описания процессов с параметрами, информация о которых не является полной, строится на использовании вероятностных представлений. Случаем изменяющиеся характеристики характеризуются разными средними величинами и функциями, к примеру моментами, корреляционной и характеристической функциями, энтропией и спектральными зависимостями. Устройства для измерений характеристик случайных функций составляют огромную самостоятельную область и в данной главе не рассматриваются.

Устройства для измерения величин активных сопротивлений R, индуктивностей L и емкостей С – довольно нередко используются в системах автоматической защиты и регулирования. Это определяется тем, что в почти всех случаях требуется управлять величиной данных характеристик, также и тем, что многие характеристики неэлектрических процессов и систем совершенно точно связаны с одним из характеристик электронных процессов и управление величиной неэлектрического параметра делается в согласовании с величиной применяемого параметра электронной цепи. К примеру, изменение температуры делает изменение активного сопротивления медной проволоки, и регулирование температуры какого-нибудь процесса может выполняться по величине сопротивления. Устройства для измерения характеристик R, L и С обычно создаются на базе использования электронных мостиковых либо дифференциальных схем. Такие схемы позволяют в ряде всевозможных случаев нейтрализовать воздействие дополнительных наружных воздействий (помех) и получить более высшую точность в определении характеристик.

Источник: http://npmavia.ru/

Аналогичные записи: Вы можете оставить комментарий, или ссылку на Ваш сайт.

Оставить комментарий

Вы должны быть авторизованы, чтобы разместить комментарий.